SEM・EDS分析サービス
概要
SEM・EDS分析は、試料の形状観察と元素分析を組み合わせて行う分析手法です。粒子の大きさや形状、表面状態を高倍率で観察するとともに、その粒子を構成する元素を分析することで、材料の特性や異物の原因を詳しく評価できます。
SEM（走査型電子顕微鏡）は、電子線を試料表面に照射し、光学顕微鏡では確認できない微細な構造や粒子形状、表面の凹凸、凝集状態などを高解像度で観察します。一方、EDS（エネルギー分散型X線分析）は、SEMで観察した箇所から発生する特性X線を検出し、試料を構成する元素の種類や分布を分析します。この2つの分析を組み合わせることで、「どのような形状をしているか」と「何でできているか」を同時に把握できるため、研究開発や品質管理、異物解析、競合品との比較評価など、さまざまな場面で活用されています。奈良機械では、分析データをご提供するだけでなく、粉体処理装置メーカーとして長年培ってきた技術と知見を活かし、分析結果の考察や工程改善、設備選定に関するご相談までサポートいたします。
特徴
- 粒子の形状や表面状態を高倍率・高解像度で観察できます。
- EDSにより試料を構成する元素を分析できます。
- 形状観察と元素分析を同時に行うことで、多角的な評価が可能です。
- 粒子の凝集状態や表面の付着物を可視化できます。
- 異物解析や不良原因の調査に活用できます。
使用分析装置紹
EDS搭載 走査型電子顕微鏡
| 型式 | JSM-IT200 |
|---|---|
| 装置概要 | 電子線を用いて試料表面を高倍率・高解像度で観察するとともに、EDSによる元素分析を行える分析装置です。粒子の形状や表面状態、元素組成を詳細に評価できます。 |
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